表面粗糙度(surface roughness)是指加工表面具有的較小間距和微小峰谷的不平度 [1] 。其兩波峰或兩波谷之間的距離（波距）很小（在1mm以下），它屬于微觀幾何形狀誤差。表面粗糙度越小，則表面越光滑。
我們知道，表面粗糙度Ra值指的是取樣長度測(cè)量出來的平均值，那RZ值是什么呢？
舊版國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T3505-1983中，規(guī)定：表面粗糙度的評(píng)定參數(shù)應(yīng)從輪廓算術(shù)平均偏差（Ra）、微觀不平度十點(diǎn)高度（Rz）和輪廓高度（Ry）三個(gè)中選取。
微觀不平度十點(diǎn)高度Rz：
在取樣長度l內(nèi)五個(gè)值的輪廓峰高的平均值與五個(gè)值的輪廓谷深的平均值之和，用公式表示為
Rz=(∑_(i=1)^5?〖y_pi+∑_(i=1)^5?y_vi 〗)/5
式中 ypi-----第i個(gè)大的輪廓峰高；
yvi------第i個(gè)大的輪廓谷深。
取樣長度l是用于判別和測(cè)量表面粗糙度時(shí)所規(guī)定的一段基準(zhǔn)長度，它在輪廓總的走向上量取。規(guī)定和選擇這段長度是為了限制和消弱表面波度對(duì)表面粗糙度測(cè)量結(jié)果的影響。常用的取樣長度為：
Rz≥0.025-0.10μm時(shí)，l=0.08mm；
Rz>0.10-0.50μm時(shí)，l=0.25mm；
Rz>0.50-10.0μm時(shí)，l=0.8mm；
Rz>10.0-50.0μm時(shí)，l=2.5mm；
Rz>50-320μm時(shí)，l=8mm。
新版國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T3505-2000（2009新）中已經(jīng)對(duì)Rz的定義進(jìn)行更改，舊標(biāo)準(zhǔn)中的標(biāo)寫方式Ry不再使用，Rz代表微觀不平度十點(diǎn)高度的定義被取消。新版中Rz取代了Ry，定義為輪廓的高度。
